Journée « Contrôle non destructif »

Salon MESURExpoVISION

Paris Porte de Versailles, Pavillon 7.3

Jeudi 6 octobre 2011

 

Coordonnateurs et présidents de session : Jean-Luc Bodnar (Université de Reims Champagne

Ardenne, Reims) et Michel Boivineau (CEA, DAM/ISENDé, Bruyères-le-Châtel)

 

  9h00 -  9h30 Accueil

 

  9h30 -  9h40 Ouverture. Martial Ducloy (Président de la SFP), Jean-Luc Bodnar

 

  9h40 - 10h10 Contrôle non destructif par thermographie infrarouge. Jean Luc Bodnar (Université de Reims Champagne Ardenne)

 

10h10 - 10h40 Le contrôle des matériaux par terahertz. Jean-Jacques Metayer (VISIOM)

 

10h40 - 11h10 Caractérisation des matériaux par LIBS. Vincent Detalle (Laboratoire de Recherche des Monuments Historiques)

 

11h10 - 11h40  Photographie numérique scientifique. Jean Marc Vallet et Odile Guillon (CICRP)

 

14h30 - 15h00 Contrôle santé des structures par capteurs à fibres optiques. Pierre Ferdinand (CEA LIST, Laboratoire de Mesures Optiques, Saclay)

 

15h00 - 15h30 Les contrôles non destructifs au CEA Valduc : des expertises qui commen-cent là où les contrôles traditionnels s’arrêtent. Nicolas Fremy (CEA, DFTN, Is-sur-Tille)

 

15h30 - 16h00 Applications industrielles des CND. Jacques Bouteyre (ASTRIUM)

 

16h00 - 16h30 Les nouveaux CND pour l’industrie mécanique. Henri Walaszek et Samuel Maillard (CETIM)

 

16h30 Conclusions

 

Comité d’organisation : Jean-Luc Bodnar (Université de Reims Champagne Ardenne), Michel Boivineau (CEA, DAM/ISENDé), Jean-Claude Mialocq (CEA Saclay, DSM, IRAMIS)

Pour plus d’informations :                 http://sfp.in2p3.fr/expo/