Journée inaugurale du club Nanométrologie

Salon MESURExpoVISION

Paris Porte de Versailles, Pavillon 7.3

Jeudi 6 octobre 2011

 

Journée organisée par le Laboratoire national de métrologie et d’essais (LNE) en partenariat avec le Centre de Compétences Nanosciences (C’Nano) et la SFP

 

Le développement des nanosciences et des nanotechnologies nécessite de se doter d’outils capables de mesurer les propriétés de la matière à des échelles nanométriques. Cette instrumentation adaptée exige le développement d’une nouvelle métrologie, la nanométrologie, qui se distingue de la métrologie traditionnelle par son aspect multidisciplinaire et qui nécessite l’émergence de nouveaux concepts. De plus, la mise sur le marché de nombreux produits de consommation contenant des nanomatériaux pose la question de leur régulation et des risques possibles en matière de santé et d’environnement. Dans ce contexte, le développement de nouveaux instruments, de matériaux de référence, de méthodologie et l’établissement de la traçabilité des mesures permettraient de rendre comparables les données provenant de différents laboratoires. Le club monté en partenariat par le LNE et le C’Nano aura pour vocation de créer un réseau de nanométrologie au niveau national. Il permettra de recueillir et préciser les besoins industriels et d’établir une passerelle entre le monde industriel et le monde académique par la mise en commun de problématiques métrologiques dans tous les domaines que recouvrent les nanosciences et les nanotechnologies.

 

Programme

  9h15 ->   9h45     Accueil café

  9h45 -> 10h15    Daniel Bernard (Arkema). NanoMétrologie : la clef du développement

                               industriel des matériaux avancés

10h15 -> 10h45     Johann Foucher (CEA-LETI). La métrologie de dimensions critiques dans

                               l'industrie du semiconducteur - L'ère de la métrologie hybride démarre

10h45 -> 11h15     Présentation du club nanoMet

11h15 -> 12h00     Présentation des trois groupes de travail

 

14h00 -> 14h30     Jean Jacques Greffet (Institut d’Optique). Conductance thermique et

                               conductance électrique à l'échelle du nanomètre

14h30 -> 15h00     Jorge Boczkowski (INSERM). Effets toxicologiques des nanomatériaux

15h00 -> 15h30     Sébastien Ducourtieux (LNE). AFM métrologique au service de la

                               nanométrologie dimensionnelle

15h30 -> 16h30     Table ronde

 

Contacts : François Piquemal (LNE), Ariel Levenson (C’Nano),

                   Jean-Claude Mialocq (SFP et C’Nano Ile-de-France)

 

Pour plus d’informations :                 http://sfp.in2p3.fr/expo/