Journée « Contrôle non destructif et caractérisation de défauts »

Salon MESUREXPOVISION

Paris Porte de Versailles, Hall 1

Jeudi 25 octobre 2012

 

 

Présidents de session : Jean-Luc Bodnar (Université de Reims Champagne Ardenne, Reims), Henri Walaszek (CETIM, Senlis), Jacques Bouteyre (Astrium, Bordeaux)

 

  9h40 -   9h45  Ouverture. Jean-Claude Mialocq (Président du Comité d’Exposition de la SFP) et Henri Walaszek (CETIM, Senlis)

 

  9h45 -   9h55  Introduction. Henri Walaszek (CETIM, Senlis)

 

  9h55 – 10h20 Caractérisation de défauts situés dans des métaux par thermographie infrarouge stimulée. Patrick Bouteille (CETIM)

 

10h20 – 10h45 La simulation et l’imagerie,  outils de  caractérisation de défauts en CND. Clarisse Poidevin (CEA/LIST/DISC/Dir)

 

10h45 - 11h10  Caractérisation de défauts situés dans des œuvres d’art par thermographie infrarouge stimulée. Kamel Mouhoubi, Jean-Luc Bodnar (Université de Reims Champagne Ardenne)

 

11h10 – 11h35 Caractérisation de défauts par imagerie ultrasonore. François Berthelot (CETIM)

 

11h35 – 12h00 Caractérisation de défauts par méthodes de CND. Jacques Bouteyre (Astrium)

 

12h00 – 12h25 Caractérisation des matériaux du bâtiment par thermographie infrarouge, Laurent Ibos (Université Paris Est)

 

14h40 – 15h05  Caractérisation de défauts par tomographie X et radiographie X.

Sébastien Brzuchacz (CETIM)

 

15h05 – 15h30  Caractérisation de défauts par magnétoscopie, ressuage et courants de Foucault. Henri Walaszek (CETIM)

 

15h30 – 15h55  Caractérisation de défauts par méthodes ultrasoniques et thermo-optiques. Eric Kuhn (Université de Paris Ouest Nanterre La Défense)

 

15h55 – 16h20  Caractérisation de défauts par thermographie infrarouge aléatoire associée à des statistiques d’ordres supérieurs. Eric Perrin (Université de Reims Champagne Ardenne)

 

16h20 – 16h45  Les accélérateurs à laser-plasma au service du CND. François Sylla (ENSTA,

ParisTech)

 

16h50 Conclusions. Jean-Luc Bodnar (Université de Reims Champagne Ardenne)

 

Comité d’organisation : Jean-Luc Bodnar (Université de Reims Champagne Ardenne, Reims) et Jean-Claude Mialocq (CEA Saclay, DSM/IRAMIS/SIS2M)

Pour plus d’informations :         http://sfp.in2p3.fr/expo/